Keithley 2470

Das 2470 High Current SourceMeter® Source Measure Unit (SMU) Instrument bringt die fortschrittliche Touch, Test und Invent Technologie direkt zu Ihnen. Es kombiniert eine innovative grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit kapazitiver Touchscreen-Technologie, um das Testen intuitiv zu gestalten und die Lernkurve zu minimieren, damit Ingenieure und Wissenschaftler schneller lernen, intelligenter arbeiten und einfacher erfinden können. Mit seiner Fähigkeit, 1100 V und 10 fA zu messen, ist das 2470 für die Charakterisierung und Prüfung von Hochspannungsbauteilen, Materialien und Modulen mit geringem Leckstrom optimiert, wie z. B. Silizium Karbid (SiC), Galliumnitrid (GaN), Leistungs-MOSFETs, Transientenunterdrückungsgeräte, Stromkreisschutzgeräte, Leistungsmodule, Batterien und vieles mehr. Diese neuen Fähigkeiten, kombiniert mit Keithleys jahrzehntelanger Erfahrung in der Entwicklung von hochpräzisen, hochgenauen SMU-Instrumenten, machen das 2470 zu einem ''Go-to-Instrument'' für Hochspannungsquellen- und Schwachstrommessanwendungen im Labor und im Testrack.

Highlights

• Große Reichweite bis zu 1100 V / 1 A DC 20 W max.
• 10 fA Messauflösung
• 0,012% Grundmessgenauigkeit mit 6½-stelliger Auflösung
• Hochauflösender kapazitiver Fünf-Zoll-Touchscreen GUI
• Quellen- und Senkenbetrieb (4-Quadranten)
• SCPI- und TSP®-Skriptprogrammiermodi
• TSP-Link für mehrkanalige I-U-Prüfungen
• Eingangs-Bananenbuchsen auf der Vorderseite; Triaxial-Anschlüsse auf der Rückseite Hochspannungseingang triaxiale Anschlüsse
• Eingebaute kontextabhängige Hilfe
• USB 2.0-Speicher-E/A-Anschluss an der Vorderseite zur Übertragung von Daten, Testskripte und Testkonfigurationen