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Wayne Kerr 43100

6.995,00 €
LCR-Messgeräte
6.995,00 € zzgl. 19% MwSt., zzgl. Versandkosten

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LCR-Meter, Grundgenauigkeit ±0,1%, Messfrequenz 20Hz bis 1MHz und DC, RS232, GPIB, USB & LAN-Schnittstelle
LCR-Meter, Grundgenauigkeit ±0,1%, Messfrequenz 20Hz bis 1MHz und DC,
RS232, GPIB, USB & LAN-Schnittstelle
Lieferumfang: Präzisions-Kelvin-Klemmen (1EVA40150), USB Kabel

Wayne Kerr 43100

Die 4300-Serie bildet das Einstiegslevel der Wayne Kerr LCR Meter. Sie bieten eine große Auswahl an Features, eine hohe Leistungsfähigkeit und sehr kompetitive Preise.

Präzise und schnelle Messungen von 20Hz bis 1MHz (43100) machen die Serie 4300 zur idealen Wahl für viele Anwendungen in der Test- oder Produktionsumgebung.

Im Two-Test-Modus können aufeinanderfolgende Messungen mit zwei verschiedenen Geräteparametern durchgeführt werden. So können beispielsweise zwei AC-Messungen bei unterschiedlichen Frequenzen oder eine AC- und eine Rdc-Messung durchgeführt werden.

Ein optionales Komponenten-Binning-Modul kann spezifiziert werden, das eine Schnittstelle zu Komponenten-Sortiermaschinen bietet. Die im Binning-Modus des Geräts festgelegten Grenzwerte ermöglichen die Sortierung einer breiten Palette von Bauteilen, während die Wahl zwischen isolierten und nicht isolierten Modulen die Flexibilität der Schnittstelle erhöht.

Das optionale Scaleizer-Handler-Modul bietet PASS/FAIL- und Datensynchronisations-Relaisausgänge für grenzwertgeprüfte Messungen. Es sind zwei Ausgangssignalkonfigurationen verfügbar.

Highlights

  • Grundgenauigkeit 0.1%
  • C, L, R, X, G, B, D, Q, Z, Y, Ø – parallel oder seriell
  • Charakterisiert Bauteile von 20Hz bis 1MHz
  • Messzeit < 20 ms
  • 2 oder 4 Ergebnisparameter
  • Binning-Option (automatisierbare i.O / n.i.O Erkennung)
  • Internal +2VAC oder external ±40VDC Bias
  • klein und leicht
  • Interfaces / Remote: GPIB, USB, LAN, RS-232
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    LCR-Meter, Grundgenauigkeit 0,08%, Messfrequenz 10Hz bis 1MHz, Messspannung 10mV bis 2V, Messrate bis zu 25ms, 7'' LCD Display, Setup für Testsequenzen, Graph-Modus für zwei Messungen, Gut/Schlecht-Test,
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