HIOKI IM7580A-2
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LAN, USB, EXT. I/O, 2m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
| Art: | Impedanz-Analysator |
|---|---|
| Frequenzbereich: | 300MHz |
| Grundgenauigkeit: | 0.0072 |
| Produktserie: | Hioki IM7580 |
| HIOKI IM3523, IM3533, 3533-01, IM3536, IM3570, IM7580, IM3590 - Kommunikationhandbuch 2 MB |
|---|
| HIOKI IM7580A-Serie - Handbuch englisch 20.4 MB |
| HIOKI - elektrische Komponenten/Messanwendungen 2.6 MB |
|---|
Zubehör
HIOKI IM9201
benötigt IM9200 und IM9906, "Test Head" im Lieferumfang der IM7580-Serie enthalten
HIOKI IM9202
benötigt IM9200 und IM9906, "Test Head" im Lieferumfang der IM7580-Serie enthalten
Alternative Produkte
HIOKI IM7580A-1
LAN, USB, EXT. I/O, 1m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7581-01
LAN, USB, EXT. I/O, 1m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7581-02
LAN, USB, EXT. I/O, 2m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7583-01
LAN, USB, EXT. I/O, 1m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Der IM7583 ist ein Hochfrequenz-Impedanzanalysator für die präzise Charakterisierung von HF-Bauteilen im Bereich von 1 MHz bis 600 MHz. Er unterstützt schnelle Frequenzsweeps, hochauflösende Impedanzmessungen und umfangreiche Analysefunktionen für Forschung, Entwicklung und produktionsnahe Prüfaufgaben. Durch den externen Testkopf lassen sich Messungen nahe am Prüfling durchführen, wodurch parasitäre Einflüsse reduziert werden.
Grundfunktionen
- Messfrequenzbereich 1 MHz bis 600 MHz
- Typische Messzeit 0,5 ms
- Grundgenauigkeit ±0,65 % Z und ±0,38° Phase
- Typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07 %
- Prüfsignalpegel -40,0 dBm bis +1,0 dBm
Der IM7583 ermöglicht die detaillierte Bewertung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren. Die hohe Messgenauigkeit und schnelle Sweep-Geschwindigkeit unterstützen präzise Impedanzanalysen über den gesamten Frequenzbereich. Funktionen wie Comparator- und BIN-Bewertungen, Flächen-, Peak- und Spot-Analysen erleichtern automatisierte Prüfabläufe. Über das 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay lassen sich alle Messparameter intuitiv einstellen. USB, LAN und EXT-I/O sind serienmäßig integriert, RS-232C und GP-IB optional verfügbar.
Für weiterführende Auswertungen steht eine Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren Modellvarianten und automatischer Modellauswahl zur Verfügung. Der kompakte Testkopf wird über ein 1-m- oder 2-m-Kabel angeschlossen und ermöglicht Messungen nahe am Prüfling, wodurch parasitäre Effekte minimiert werden. Mit der IM9202 Testvorrichtung lassen sich Bauteile unterschiedlicher Gehäuseformen präzise positionieren, während die IM9201 speziell für SMD-Bauteile ausgelegt ist. Der Standfuß IM9200 sorgt für eine stabile Montage und erleichtert die Handhabung kleiner Prüflinge.
Das optionale IM9905 Kalibrierkit ermöglicht OPEN-, SHORT- und LOAD-Kalibrierungen bis zur definierten Referenzebene und reduziert systembedingte Abweichungen. Über den IM9906 Adapter wird der Testkopf an die Testvorrichtungen angeschlossen. Integrierte Kontaktprüfungen wie DCR-Test, Hi-Z-Erkennung und Signalformüberwachung unterstützen die Beurteilung der Kontaktqualität und erhöhen die Messzuverlässigkeit. Der IM7583 ist für den Langzeitbetrieb in anspruchsvollen Labor- und Prüfumgebungen ausgelegt und wird in Japan entwickelt und gefertigt.
Besonderheiten und Features
- Schnelle Frequenzsweeps mit 0,5-ms-Messzeit
- Ersatzschaltbildanalyse mit automatischer Modellauswahl
- Kompakter Testkopf für HF-Messungen nahe am Prüfling
- Unterstützung von IM9201, IM9202 und IM9200 Testvorrichtungen
- Kalibrierung mit OPEN/SHORT/LOAD über IM9905
- Comparator- und BIN-Funktionen für automatisierte Prüfungen
Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten
- USB
- LAN
- EXT-I/O
- Optional RS-232C
- Optional GP-IB
Für den IM7583 steht umfangreiches Zubehör wie Testvorrichtungen, Kalibrierkits, Adapter und Schnittstellenmodule zur Verfügung, wodurch sich der Impedanzanalysator flexibel in HF-Messplätze integrieren lässt.
HIOKI IM7583-02
LAN, USB, EXT. I/O, 2m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Der IM7583 ist ein Hochfrequenz-Impedanzanalysator für die präzise Charakterisierung von HF-Bauteilen im Bereich von 1 MHz bis 600 MHz. Er unterstützt schnelle Frequenzsweeps, hochauflösende Impedanzmessungen und umfangreiche Analysefunktionen für Forschung, Entwicklung und produktionsnahe Prüfaufgaben. Durch den externen Testkopf lassen sich Messungen nahe am Prüfling durchführen, wodurch parasitäre Einflüsse reduziert werden.
Grundfunktionen
- Messfrequenzbereich 1 MHz bis 600 MHz
- Typische Messzeit 0,5 ms
- Grundgenauigkeit ±0,65 % Z und ±0,38° Phase
- Typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07 %
- Prüfsignalpegel -40,0 dBm bis +1,0 dBm
Der IM7583 ermöglicht die detaillierte Bewertung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren. Die hohe Messgenauigkeit und schnelle Sweep-Geschwindigkeit unterstützen präzise Impedanzanalysen über den gesamten Frequenzbereich. Funktionen wie Comparator- und BIN-Bewertungen, Flächen-, Peak- und Spot-Analysen erleichtern automatisierte Prüfabläufe. Über das 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay lassen sich alle Messparameter intuitiv einstellen. USB, LAN und EXT-I/O sind serienmäßig integriert, RS-232C und GP-IB optional verfügbar.
Für weiterführende Auswertungen steht eine Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren Modellvarianten und automatischer Modellauswahl zur Verfügung. Der kompakte Testkopf wird über ein 1-m- oder 2-m-Kabel angeschlossen und ermöglicht Messungen nahe am Prüfling, wodurch parasitäre Effekte minimiert werden. Mit der IM9202 Testvorrichtung lassen sich Bauteile unterschiedlicher Gehäuseformen präzise positionieren, während die IM9201 speziell für SMD-Bauteile ausgelegt ist. Der Standfuß IM9200 sorgt für eine stabile Montage und erleichtert die Handhabung kleiner Prüflinge.
Das optionale IM9905 Kalibrierkit ermöglicht OPEN-, SHORT- und LOAD-Kalibrierungen bis zur definierten Referenzebene und reduziert systembedingte Abweichungen. Über den IM9906 Adapter wird der Testkopf an die Testvorrichtungen angeschlossen. Integrierte Kontaktprüfungen wie DCR-Test, Hi-Z-Erkennung und Signalformüberwachung unterstützen die Beurteilung der Kontaktqualität und erhöhen die Messzuverlässigkeit. Der IM7583 ist für den Langzeitbetrieb in anspruchsvollen Labor- und Prüfumgebungen ausgelegt und wird in Japan entwickelt und gefertigt.
Besonderheiten und Features
- Schnelle Frequenzsweeps mit 0,5-ms-Messzeit
- Ersatzschaltbildanalyse mit automatischer Modellauswahl
- Kompakter Testkopf für HF-Messungen nahe am Prüfling
- Unterstützung von IM9201, IM9202 und IM9200 Testvorrichtungen
- Kalibrierung mit OPEN/SHORT/LOAD über IM9905
- Comparator- und BIN-Funktionen für automatisierte Prüfungen
Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten
- USB
- LAN
- EXT-I/O
- Optional RS-232C
- Optional GP-IB
Für den IM7583 steht umfangreiches Zubehör wie Testvorrichtungen, Kalibrierkits, Adapter und Schnittstellenmodule zur Verfügung, wodurch sich der Impedanzanalysator flexibel in HF-Messplätze integrieren lässt.
HIOKI IM7585-01
LAN, USB, EXT. I/O, 1m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7585-02
LAN, USB, EXT. I/O, 2m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7587-01
LAN, USB, EXT. I/O, 1m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands
HIOKI IM7587-02
LAN, USB, EXT. I/O, 2m Anschlusskabel, optional: GPIB oder RS232
Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.
Wesentliche Merkmale
- 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
- Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
- 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
- ±0,65%. Grundgenauigkeit
- Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
- Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
- Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
- Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands