Impedanzanalysatoren

Das ALDAS-a stellt ein leistungsfähiges System für die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) dar und wurde gezielt für die Untersuchung von Brennstoffzellen sowie Wasser-Elektrolyseanwendungen konzipiert. Klassische Strom-Spannungs-Messungen (I-V) werden zwar häufig zur Beurteilung der Gesamtperformance verwendet, stoßen jedoch schnell an ihre Grenzen, wenn es um die detaillierte Analyse von Leistungsänderungen oder Degradationsursachen geht.

Mit der EIS-Technologie ermöglicht das ALDAS-a eine wesentlich tiefere Einblicke: Komplexe elektrochemische Prozesse innerhalb der Zelle lassen sich quantitativ erfassen und gezielt voneinander trennen. Dadurch entsteht ein präzises Verständnis der internen Vorgänge, das als Grundlage für fundierte Optimierungen dient.

Durch die integrierte hochpräzise Strommesstechnik liefert das System stabile und genaue Impedanzmesswerte – auch im niederfrequenten Bereich. Dies gewährleistet verlässliche sowie übersichtlich interpretierbare Ergebnisse.

Ein wesentlicher Vorteil des ALDAS-a liegt in seiner hohen Messgeschwindigkeit. Ein kompletter Frequenzdurchlauf kann in unter 8 Minuten realisiert werden, wodurch sich im Vergleich zu herkömmlichen Systemen die Testzeiten deutlich verkürzen. In Verbindung mit der Möglichkeit zur Mehrkanalmessung von bis zu acht Zellen gleichzeitig sowie einem DC-Ausgang von bis zu 20 A trägt das System erheblich zur Beschleunigung von Entwicklungsprozessen bei.

Hauptmerkmale

• Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) zur Analyse von Brennstoffzellen und Wasser-Elektrolyse
• Spannungsmessbereich: 60 mV bis 20 V
• Frequenzbereich: weiter Sweep von hohen zu niedrigen Frequenzen (z. B. 10 kHz bis 100 kHz)
• Messdauer: ca. 7,6 Minuten (Schnellmodus bei Mehrkanalmessung)
• Mehrkanalfähigkeit: gleichzeitige Messung von bis zu 8 Zellen
• DC-Ausgang: bis zu 20 A ohne externe DC-Stromquelle

ALDAS-E ist ein EIS-Messsystem, das speziell für großskalige Elektrolyseure und Brennstoffzellen im Leistungsbereich von Kilowatt bis Megawatt entwickelt wurde. Die In-situ-Fähigkeit ermöglicht es, optimale Betriebszustände zu identifizieren und liefert datenbasierte Einblicke in den inneren Zustand sowie in Degradationsprozesse des Zellstapels. Im Gegensatz zu herkömmlichen Verfahren unterstützt das System zudem die Impedanzanalyse großer Stacks während laufender Demonstrations- und kommerzieller Betriebsphasen.

Der ALDAS-Mini (Electrolysis Cell Analyzer) ist ein kompaktes und leistungsstarkes System, das speziell entwickelt wurde, um Forschungs- und Entwicklungsprozesse in der Elektrolysezellentechnologie zu beschleunigen. Mit seinem Fokus auf hohe Präzision ermöglicht er eine detaillierte Analyse von Elektrolysezellen und trägt damit maßgeblich zur Weiterentwicklung nachhaltiger, wasserstoffbasierter Energiesysteme bei.

Elektrolysezellen spielen eine zentrale Rolle bei der Erzeugung von grünem Wasserstoff, der ein entscheidender Baustein auf dem Weg zur Klimaneutralität ist. Der ALDAS-Mini unterstützt Forschende und Ingenieure dabei, Betriebsparameter gezielt zu optimieren, Kosten zu senken und die Effizienz zu steigern, indem er fundierte Einblicke in das Zellverhalten unter realen Betriebsbedingungen liefert.

Der HIOKI IM3570 vereint die Geschwindigkeit eines modernen LCR-Messgeräts mit den erweiterten Möglichkeiten eines Impedanz-Analysators. Sein Frequenzbereich von 4 Hz bis 5 MHz ermöglicht schnelle Prüfungen in der Fertigung ebenso wie präzise Messungen in der Entwicklung. Bei 100 kHz erreicht das Gerät Messzeiten von nur 0,5 ms, bei 1 kHz 1,5 ms. Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,08 % bei der Impedanz und ±0,05° bei der Phase liefert der IM3570 stabile und reproduzierbare Ergebnisse über einen großen Bereich von 1 mO bis 200 MO.

Das Gerät unterstützt verschiedene Messmodi wie LCR-, Sweep- und Dauermessungen. Vergleichs- und BIN-Funktionen erleichtern automatisierte Gut/Schlecht-Bewertungen, während Frequenz- und Pegel-Sweeps für die Analyse von Filtern, Resonanzschaltungen oder piezoelektrischen Bauteilen genutzt werden können. Ein 5,7" Farb-Touchdisplay sorgt für eine intuitive Bedienung, und über USB, LAN, RS-232C, GPIB und Handler I/O lässt sich der IM3570 einfach in bestehende Prüfumgebungen integrieren.

Optionale Ersatzschaltbildanalyse

Für erweiterte Anwendungen steht die optionale IM9000-Firmware zur Verfügung. Sie ergänzt den IM3570 um automatische Ersatzschaltbildmodelle zur detaillierten Bewertung frequenzabhängiger Eigenschaften. Insgesamt stehen fünf Modellvarianten zur Auswahl, darunter ein Vier-Element-Modell für piezoelektrische Bauelemente. Außerdem können Nyquist- und Admittanzdarstellungen direkt angezeigt werden. Die IM9000 muss beim Kauf mitbestellt werden, da eine nachträgliche Installation nicht möglich ist. Dieses Modell enthält die Firmware nicht und entspricht der Standardvariante.

Hauptmerkmale

• Frequenzbereich 4 Hz bis 5 MHz
• Messgeschwindigkeit 0,5 ms bei 100 kHz (Fast Mode)
• Grundgenauigkeit: Impedanz ±0,08 %, Phase ±0,05°
• Prüfsignalpegel 5 mV bis 5 V und 10 µA bis 100 mA
• Garantierter Messbereich von 1 mO bis 200 MO

Typische Anwendungen

• Schnelle Prüfung von Kondensatoren, Induktivitäten, Widerständen und Wickelbauteilen
• Hochpräzise Messung niederohmiger Komponenten wie Polymer-Kondensatoren
• Frequenz- und Pegel-Sweeps für Filter-, Resonanz- und Piezoanalysen
• Wareneingangsprüfung und automatisierte Gut/Schlecht-Bewertung in der Fertigung

Der IM3570-9000 ist ein hochpräziser Impedanz-Analysator für die detaillierte Charakterisierung elektronischer und elektrochemischer Komponenten. Mit integriertem Ersatzschaltbild-Tool und einem Frequenzbereich von 4 Hz bis 5 MHz eignet er sich ideal für Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung.

Grundfunktionen

• Frequenzbereich: 4 Hz bis 5 MHz
• Ersatzschaltbildanalyse mit fünf Schaltmodellen
• Grundgenauigkeit: Z ±0,08 %, Phase ±0,05°
• Garantierter Messbereich: 1 mΩ bis 200 MΩ
• Prüfsignal: 5 mV bis 5 V, 10 µA bis 100 mA
• Sweep- und Dauermessfunktionen

Der IM3570-9000 kombiniert die Funktionen eines LCR-Meters mit erweiterten Analyseoptionen für komplexe Impedanzen. Dank integrierter Ersatzschaltbildanalyse können Bauelemente und Materialien präzise bewertet werden. Die Firmware bietet fünf Modelle, darunter RLC-Dreielement- und Vier-Element-Schaltungen für piezoelektrische Anwendungen.
Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,08 % für Impedanz und ±0,05° für die Phase liefert das Gerät verlässliche Ergebnisse über einen großen Messbereich. Sweep-Funktionen für Frequenz und Signalpegel ermöglichen die Analyse von Resonanzverhalten, Filtern und Materialeigenschaften. Das 5,7″ Farb-Touchdisplay sorgt für intuitive Bedienung, während Vergleichs- und BIN-Funktionen automatisierte Gut/Schlecht-Prüfungen unterstützen.

Besonderheiten und Features

• Integrierte Ersatzschaltbildanalyse mit automatischer Modellwahl
• Darstellung von Nyquist- und Admittanzdiagrammen
• Messzeiten ab 0,5 ms bei 100 kHz
• Mehrere Betriebsmodi inkl. LCR- und Sweep-Funktion
• Hohe Langzeitstabilität und robuste Bauweise

Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten

• USB, LAN, RS232C, GP-IB, Handler I/O
• Einfache Integration in automatisierte Prüfsysteme
• Steuerung über intuitives Touchdisplay

Für reproduzierbare Messungen steht umfangreiches Zubehör wie Kelvin-Klemmen, SMD-Testspitzen und Adapter für bedrahtete Bauteile zur Verfügung. Damit ist der IM3570-9000 die ideale Lösung für präzise Impedanzanalysen in Labor und Produktion.

Der IM3590 ist ein chemischer Impedanz-Analysator für die detaillierte Charakterisierung elektrochemischer Systeme wie Batteriezellen und Doppelschichtkondensatoren. Er kombiniert breitbandige Impedanzmessungen mit integrierter Ersatzschaltbildanalyse und ermöglicht präzise Untersuchungen von Leitfähigkeiten, Widerständen und dynamischen Prozessen. Durch den Batteriemodus mit automatischem DC-Bias lassen sich Messungen unter realistischen Betriebsbedingungen durchführen.

Grundfunktionen

• Frequenzbereich 1 mHz bis 200 kHz
• Grundgenauigkeit ±0,05 %
• Batteriemodus mit automatischem DC-Bias bis 5 V
• Frequenz-Sweep mit bis zu 800 Punkten
• Ersatzschaltbildanalyse mit Nyquist- und Bode-Darstellung
• 5,7 Zoll Farb-TFT-LCD mit Touchpanel

Der IM3590 ermöglicht Impedanzmessungen im Bereich von etwa 100 mO bis 10 O und eignet sich damit besonders für Batteriezellen mit niedrigen Innenwiderständen. Der Batteriemodus passt den DC-Bias automatisch an die Zellspannung an und schafft stabile Arbeitspunkte für elektrochemische Analysen. Damit lassen sich Parameter wie Ladungsübertragungswiderstand, Ionenleitfähigkeit und Diffusionsverhalten praxisnah bestimmen. Für die Modellierung elektrochemischer Prozesse stehen verschiedene Ersatzschaltmodelle zur Verfügung, darunter polare und unipolare Varianten sowie klassische LCR-Strukturen.

Die Sweep-Funktion deckt den gesamten Frequenzbereich ab und erlaubt eine feine Auflösung der Impedanzkurven. Prüfspannung und -strom sind zwischen 5 mV und 5 V sowie 10 µA und 100 mA einstellbar. In Verbindung mit dem optionalen Mantel-Temperaturfühler 9478 lassen sich temperaturabhängige Impedanzverläufe erfassen. Comparator- und BIN-Funktionen unterstützen automatisierte Klassifizierungen, etwa in der Wareneingangsprüfung. Das Farbdisplay stellt Messkurven und Analyseparameter übersichtlich dar. USB ist serienmäßig integriert, optional stehen LAN, RS-232C und GP-IB zur Verfügung.

Besonderheiten und Features

• Breitbandige EIS-Analyse für Batterien und EDLC
• Automatischer DC-Bias im Batteriemodus
• Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren Modellvarianten
• Bis zu 800 konfigurierbare Sweep-Frequenzen
• Temperaturabhängige Messungen mit optionalem Sensor
• Comparator- und BIN-Funktion für automatisierte Prüfabläufe

Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten

• USB
• Optional LAN
• Optional RS-232C
• Optional GP-IB
• Handler I/O

Für den IM3590 steht umfangreiches Zubehör wie Messadapter, 4-Pol-Kabel, SMD-Adapter, DC-Bias-Einheiten und optionale Schnittstellenmodule zur Verfügung, wodurch sich das Gerät flexibel in Labor- und Prüfumgebungen integrieren lässt.

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Der IM7583 ist ein Hochfrequenz-Impedanzanalysator für die präzise Charakterisierung von HF-Bauteilen im Bereich von 1 MHz bis 600 MHz. Er unterstützt schnelle Frequenzsweeps, hochauflösende Impedanzmessungen und umfangreiche Analysefunktionen für Forschung, Entwicklung und produktionsnahe Prüfaufgaben. Durch den externen Testkopf lassen sich Messungen nahe am Prüfling durchführen, wodurch parasitäre Einflüsse reduziert werden.

Grundfunktionen

• Messfrequenzbereich 1 MHz bis 600 MHz
• Typische Messzeit 0,5 ms
• Grundgenauigkeit ±0,65 % Z und ±0,38° Phase
• Typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07 %
• Prüfsignalpegel -40,0 dBm bis +1,0 dBm

Der IM7583 ermöglicht die detaillierte Bewertung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren. Die hohe Messgenauigkeit und schnelle Sweep-Geschwindigkeit unterstützen präzise Impedanzanalysen über den gesamten Frequenzbereich. Funktionen wie Comparator- und BIN-Bewertungen, Flächen-, Peak- und Spot-Analysen erleichtern automatisierte Prüfabläufe. Über das 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay lassen sich alle Messparameter intuitiv einstellen. USB, LAN und EXT-I/O sind serienmäßig integriert, RS-232C und GP-IB optional verfügbar.

Für weiterführende Auswertungen steht eine Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren Modellvarianten und automatischer Modellauswahl zur Verfügung. Der kompakte Testkopf wird über ein 1-m- oder 2-m-Kabel angeschlossen und ermöglicht Messungen nahe am Prüfling, wodurch parasitäre Effekte minimiert werden. Mit der IM9202 Testvorrichtung lassen sich Bauteile unterschiedlicher Gehäuseformen präzise positionieren, während die IM9201 speziell für SMD-Bauteile ausgelegt ist. Der Standfuß IM9200 sorgt für eine stabile Montage und erleichtert die Handhabung kleiner Prüflinge.

Das optionale IM9905 Kalibrierkit ermöglicht OPEN-, SHORT- und LOAD-Kalibrierungen bis zur definierten Referenzebene und reduziert systembedingte Abweichungen. Über den IM9906 Adapter wird der Testkopf an die Testvorrichtungen angeschlossen. Integrierte Kontaktprüfungen wie DCR-Test, Hi-Z-Erkennung und Signalformüberwachung unterstützen die Beurteilung der Kontaktqualität und erhöhen die Messzuverlässigkeit. Der IM7583 ist für den Langzeitbetrieb in anspruchsvollen Labor- und Prüfumgebungen ausgelegt und wird in Japan entwickelt und gefertigt.

Besonderheiten und Features

• Schnelle Frequenzsweeps mit 0,5-ms-Messzeit
• Ersatzschaltbildanalyse mit automatischer Modellauswahl
• Kompakter Testkopf für HF-Messungen nahe am Prüfling
• Unterstützung von IM9201, IM9202 und IM9200 Testvorrichtungen
• Kalibrierung mit OPEN/SHORT/LOAD über IM9905
• Comparator- und BIN-Funktionen für automatisierte Prüfungen

Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten

• USB
• LAN
• EXT-I/O
• Optional RS-232C
• Optional GP-IB

Für den IM7583 steht umfangreiches Zubehör wie Testvorrichtungen, Kalibrierkits, Adapter und Schnittstellenmodule zur Verfügung, wodurch sich der Impedanzanalysator flexibel in HF-Messplätze integrieren lässt.

Der IM7583 ist ein Hochfrequenz-Impedanzanalysator für die präzise Charakterisierung von HF-Bauteilen im Bereich von 1 MHz bis 600 MHz. Er unterstützt schnelle Frequenzsweeps, hochauflösende Impedanzmessungen und umfangreiche Analysefunktionen für Forschung, Entwicklung und produktionsnahe Prüfaufgaben. Durch den externen Testkopf lassen sich Messungen nahe am Prüfling durchführen, wodurch parasitäre Einflüsse reduziert werden.

Grundfunktionen

• Messfrequenzbereich 1 MHz bis 600 MHz
• Typische Messzeit 0,5 ms
• Grundgenauigkeit ±0,65 % Z und ±0,38° Phase
• Typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07 %
• Prüfsignalpegel -40,0 dBm bis +1,0 dBm

Der IM7583 ermöglicht die detaillierte Bewertung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren. Die hohe Messgenauigkeit und schnelle Sweep-Geschwindigkeit unterstützen präzise Impedanzanalysen über den gesamten Frequenzbereich. Funktionen wie Comparator- und BIN-Bewertungen, Flächen-, Peak- und Spot-Analysen erleichtern automatisierte Prüfabläufe. Über das 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay lassen sich alle Messparameter intuitiv einstellen. USB, LAN und EXT-I/O sind serienmäßig integriert, RS-232C und GP-IB optional verfügbar.

Für weiterführende Auswertungen steht eine Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren Modellvarianten und automatischer Modellauswahl zur Verfügung. Der kompakte Testkopf wird über ein 1-m- oder 2-m-Kabel angeschlossen und ermöglicht Messungen nahe am Prüfling, wodurch parasitäre Effekte minimiert werden. Mit der IM9202 Testvorrichtung lassen sich Bauteile unterschiedlicher Gehäuseformen präzise positionieren, während die IM9201 speziell für SMD-Bauteile ausgelegt ist. Der Standfuß IM9200 sorgt für eine stabile Montage und erleichtert die Handhabung kleiner Prüflinge.

Das optionale IM9905 Kalibrierkit ermöglicht OPEN-, SHORT- und LOAD-Kalibrierungen bis zur definierten Referenzebene und reduziert systembedingte Abweichungen. Über den IM9906 Adapter wird der Testkopf an die Testvorrichtungen angeschlossen. Integrierte Kontaktprüfungen wie DCR-Test, Hi-Z-Erkennung und Signalformüberwachung unterstützen die Beurteilung der Kontaktqualität und erhöhen die Messzuverlässigkeit. Der IM7583 ist für den Langzeitbetrieb in anspruchsvollen Labor- und Prüfumgebungen ausgelegt und wird in Japan entwickelt und gefertigt.

Besonderheiten und Features

• Schnelle Frequenzsweeps mit 0,5-ms-Messzeit
• Ersatzschaltbildanalyse mit automatischer Modellauswahl
• Kompakter Testkopf für HF-Messungen nahe am Prüfling
• Unterstützung von IM9201, IM9202 und IM9200 Testvorrichtungen
• Kalibrierung mit OPEN/SHORT/LOAD über IM9905
• Comparator- und BIN-Funktionen für automatisierte Prüfungen

Schnittstellen und Kommunikationsmöglichkeiten

• USB
• LAN
• EXT-I/O
• Optional RS-232C
• Optional GP-IB

Für den IM7583 steht umfangreiches Zubehör wie Testvorrichtungen, Kalibrierkits, Adapter und Schnittstellenmodule zur Verfügung, wodurch sich der Impedanzanalysator flexibel in HF-Messplätze integrieren lässt.

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

Die fünf Impedanzanalysatoren der Serie IM7580 von Hioki bieten Messfrequenzen von 1MHz- bis 3-GHz und eignen sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung elektronischer Komponenten.
Der Prüfadapter IM9201, der 6 verschiedene SMD-Größen aufnehmen kann, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Messung von Prüflingen.
Der Prüfadapter IM9202 , für bedrahtete/durchkontaktierte Bauelemente, einschließlich RFID- und NFC-Chips bietet einen einzigartigen Staging-Mechanismus, mit dem Sie Komponenten und Geräte in verschiedenen Formen und Größen validieren können.
Hochfrequenztests bis zu 600 MHz sind möglich.

Wesentliche Merkmale

• 1MHz bis 3 GHz Messfrequenz
• Schnellste Prüfgeschwindigkeit von 0,5 msec (analoge Messzeit)
• 0,07% Messwertvariabilität (bei Messung einer 1 nH-Spule bei 3 GHz)
• ±0,65%. Grundgenauigkeit
• Gehäuse in halber Rackgröße und handtellergroßer Prüfkopf
• Umfassende Kontaktprüfung (über DCR-Test, Hi-Z-Reject oder Wellenformbeurteilung)
• Durchführung von Frequenz-Sweeps, Pegel-Sweeps und Zeitintervallmessungen im Analyzer-Modus
• Hilft bei der korrekten Identifizierung der Eigenresonanzfrequenz (SRF) und des äquivalenten Serienwiderstands

IMPULSE WINDING TESTER ST4030A
Der ST4030A ist ein Impulswicklungstester, der die Funktionen eines Widerstandsmessgerätes mit der Isolationsfestigkeitsprüfung kombiniert.
Diese Eigenschaften sind für Hersteller von Wicklungen für Elektromotoren erforderlich, um stetig die Qualität zu verbessern.
Erfüllen Sie die Anforderungen an zuverlässigere Motorwicklungen angesichts des zunehmenden Einsatzes von Elektrofahrzeugen und selbstfahrender Technologie.

• Identifizieren Sie zuvor nicht nachweisbare Mängel
• Erkennen Sie Wellenformen mit hoher Präzision (200 MHz Samplingfrequenz & 12-Bit-Auflösung)
• Identifizieren Sie einzelne fehlerhafte Windungen durch Quantifizierung der Wellenformen
• Prüfung des Rotors im montierten Zustand
• Erkennung eines Kurzschlusses um eine Umdrehung
• Isolationsfehler zwischen den Motorwicklungen identifizieren
• Fehlerhafte Isolation (Pseudokurzschlüsse) zwischen Motorwicklungen durch Prüfung auf mikroskopische Teilentladungen diagnostizieren (Werksoption, nicht nachrüstbar)

ersetzt ab März 2020 das Modell Hioki ST4030

Wayne Kerr 3255B

Die Induktivitätsanalysatoren der Reihe 3255B sind in der Lage Geräte auf klare und einfache Weise genau zu charakterisieren. Die Induktivitätsanalysatoren sind in drei Versionen erhältlich 3255BL (200kHz), 3255B (500kHz) und 3255BQ (1 MHz).

In der Entwurfsphase der Komponentenentwicklung ist es sehr wichtig zu analysieren, wie die Komponenten unter verschiedenen Betriebsbedingungen funktionieren. Dazu gehört der Betrieb bei verschiedenen Frequenzen, AC-Ansteuerungspegeln oder DC-Bias-Strömen.

Der AC-Ansteuerungspegel kann zwischen 1 mV und 10 V eingestellt werden. Der DC-Vorspannungsstrom kann auf 1 A oder 2 A eingestellt werden (interne Optionen). Bei Verwendung der externen 3265B-Reihe von DC-Vorspannungsgeräten können Vorspannungsströme bis zu einem Maximum von 125 A eingestellt werden.

Highlights

• Frequenzbereiche von 20 Hz bis 1 MHz
• Schnelle Messgeschwindigkeit - bis zu 20 Messungen pro Sekunde
• 0,1% Grundgenauigkeit
• Bis zu 125 A DC-Vorstrom
• Umfassende Messfunktionen
• Unkomplizierte, intuitive Bedienung
• Prüfergebnisse drucken
• GPIB-Steuerung mit LabVIEW™-Treiber

Wayne Kerr 3255BL

Die Induktivitätsanalysatoren der Reihe 3255B sind in der Lage Geräte auf klare und einfache Weise genau zu charakterisieren. Die Induktivitätsanalysatoren sind in drei Versionen erhältlich 3255BL (200kHz), 3255B (500kHz) und 3255BQ (1 MHz).

In der Entwurfsphase der Komponentenentwicklung ist es sehr wichtig zu analysieren, wie die Komponenten unter verschiedenen Betriebsbedingungen funktionieren. Dazu gehört der Betrieb bei verschiedenen Frequenzen, AC-Ansteuerungspegeln oder DC-Bias-Strömen.

Der AC-Ansteuerungspegel kann zwischen 1 mV und 10 V eingestellt werden. Der DC-Vorspannungsstrom kann auf 1 A oder 2 A eingestellt werden (interne Optionen). Bei Verwendung der externen 3265B-Reihe von DC-Vorspannungsgeräten können Vorspannungsströme bis zu einem Maximum von 125 A eingestellt werden.

Highlights

• Frequenzbereiche von 20 Hz bis 1 MHz
• Schnelle Messgeschwindigkeit - bis zu 20 Messungen pro Sekunde
• 0,1% Grundgenauigkeit
• Bis zu 125 A DC-Vorstrom
• Umfassende Messfunktionen
• Unkomplizierte, intuitive Bedienung
• Prüfergebnisse drucken
• GPIB-Steuerung mit LabVIEW™-Treiber

Wayne Kerr 3255BQ

Die Induktivitätsanalysatoren der Reihe 3255B sind in der Lage Geräte auf klare und einfache Weise genau zu charakterisieren. Die Induktivitätsanalysatoren sind in drei Versionen erhältlich 3255BL (200kHz), 3255B (500kHz) und 3255BQ (1 MHz).

In der Entwurfsphase der Komponentenentwicklung ist es sehr wichtig zu analysieren, wie die Komponenten unter verschiedenen Betriebsbedingungen funktionieren. Dazu gehört der Betrieb bei verschiedenen Frequenzen, AC-Ansteuerungspegeln oder DC-Bias-Strömen.

Der AC-Ansteuerungspegel kann zwischen 1 mV und 10 V eingestellt werden. Der DC-Vorspannungsstrom kann auf 1 A oder 2 A eingestellt werden (interne Optionen). Bei Verwendung der externen 3265B-Reihe von DC-Vorspannungsgeräten können Vorspannungsströme bis zu einem Maximum von 125 A eingestellt werden.

Highlights

• Frequenzbereiche von 20 Hz bis 1 MHz
• Schnelle Messgeschwindigkeit - bis zu 20 Messungen pro Sekunde
• 0,1% Grundgenauigkeit
• Bis zu 125 A DC-Vorstrom
• Umfassende Messfunktionen
• Unkomplizierte, intuitive Bedienung
• Prüfergebnisse drucken
• GPIB-Steuerung mit LabVIEW™-Treiber

In der Entwurfsphase der Bauteilentwicklung ist es von entscheidender Bedeutung zu verstehen, wie das Bauteil unter verschiedenen Betriebsbedingungen funktioniert. Dazu kann der Betrieb bei verschiedenen Frequenzen, AC-Ansteuerungspegeln oder DC-Bias-Strömen gehören.

Der 3260B Precision Magnetics Analyzer kann jede der Messfunktionen, wie z. B. Induktivität (L) oder Impedanz (Z), (einschließlich des sekundären Terms) gegen die Frequenz, den AC-Ansteuerungspegel oder den DC-Vorspannungsstrom aufzeichnen.

Es können Frequenzsweeps im Bereich von 20 Hz bis 3 MHz eingestellt werden. Es besteht die Wahl zwischen einer linearen und einer logarithmischen Frequenzanzeige.

3260B eignet sich besonders für die Messung von Parametern an Telekommunikationstransformatoren.

Highlights

• Großer Frequenzbereich von 20 Hz bis 3 MHz
• Schnelle Messgeschwindigkeit - bis zu 20 Messungen pro Sekunde
• 0,1% Grundgenauigkeit
• Bis zu 125A DC Vorstrom
• Messfunktionen für die Telekommunikation
• Analysemodus mit grafischen Anzeigen
• Umfassende Messfunktionen einschließlich Dichtheitsprüfungen
• Unkomplizierte, intuitive Bedienung
• Drucktest Ergebnisse
• GPIB-Steuerung mit LabVIEW™-Treiber
• gedruckte Prüfergebnisse

Wayne Kerr 3265B

Zur Bewertung von Bauteilen mit Strömen bis zu 250 A werden die 3265B DC Bias Units entweder mit den Wayne Kerr 3255B Inductance Analyzers oder dem 3260B Precision Magnetics Analyzer verwendet. Wenn eine DC-Vorspannungseinheit 3265B an einen Analysator angeschlossen ist, kann ein DC-Vorspannungsstrom von bis zu 25 A in Schritten von 25 mA eingestellt werden. Zusätzliche DC-Bias-Einheiten können hinzugefügt werden. Mit zehn parallel geschalteten Geräten können DC-Vorströme bis zu einem Maximum von 250 A DC eingestellt werden.

Das 3255BL kann nur mit den DC-Vorspannungseinheiten 3265B/5A und 3265B/10A, 5A und 10A verwendet werden. Mehrere Geräte können parallel geschaltet werden, um einen maximalen DC-Vorspannungsstrom von bis zu 50 A zu erreichen, der in Schritten von 25 mA eingestellt werden kann.

Die Geräte verfügen über eine Reihe von Sicherheits- und Schutzfunktionen, einschließlich eines Sicherheitsverriegelungssystems zum Schutz des Anwenders vor EMFs. Sie sind außerdem vollständig gegen Übertemperatur, übermäßigen Spannungsabfall und Ausfall der Messleitungen geschützt.

Highlights

• Verbessert die Benutzerfreundlichkeit von Wayne Kerr Analyzers: 3255N Inductance Analyzers Serie, 3260B Precision Magnetics Analyzer
• Eine einzelne DC-Vorspannungseinheit kann zwischen 25mA und 25A DC-Vorspannungsstrom in 25mA Schritten liefern
• Erhältlich in 1 MHz und 3 MHz Versionen
• 250A bei 1MHz Messfrequenz
• 50A bei 3MHz Messfrequenz
• DC Bias Fixtures verfügbar, welche genaue und sichere Prüfung von konventionell bedrahteten und oberflächenmontierten Induktoren ermöglichen
• Fügt zusätzliche Funktionen hinzu
• Bis zu 10V Konformitätsspannung über dem Gerät unter Test

Wayne Kerr 3265BG

Zur Bewertung von Bauteilen mit Strömen bis zu 250 A werden die 3265B DC Bias Units entweder mit den Wayne Kerr 3255B Inductance Analyzers oder dem 3260B Precision Magnetics Analyzer verwendet. Wenn eine DC-Vorspannungseinheit 3265B an einen Analysator angeschlossen ist, kann ein DC-Vorspannungsstrom von bis zu 25 A in Schritten von 25 mA eingestellt werden. Zusätzliche DC-Bias-Einheiten können hinzugefügt werden. Mit zehn parallel geschalteten Geräten können DC-Vorströme bis zu einem Maximum von 250 A DC eingestellt werden.

Das 3255BL kann nur mit den DC-Vorspannungseinheiten 3265B/5A und 3265B/10A, 5A und 10A verwendet werden. Mehrere Geräte können parallel geschaltet werden, um einen maximalen DC-Vorspannungsstrom von bis zu 50 A zu erreichen, der in Schritten von 25 mA eingestellt werden kann.

Die Geräte verfügen über eine Reihe von Sicherheits- und Schutzfunktionen, einschließlich eines Sicherheitsverriegelungssystems zum Schutz des Anwenders vor EMFs. Sie sind außerdem vollständig gegen Übertemperatur, übermäßigen Spannungsabfall und Ausfall der Messleitungen geschützt.

Highlights

• Verbessert die Benutzerfreundlichkeit von Wayne Kerr Analyzers: 3255N Inductance Analyzers Serie, 3260B Precision Magnetics Analyzer
• Eine einzelne DC-Vorspannungseinheit kann zwischen 25mA und 25A DC-Vorspannungsstrom in 25mA Schritten liefern
• Erhältlich in 1 MHz und 3 MHz Versionen
• 250A bei 1MHz Messfrequenz
• 50A bei 3MHz Messfrequenz
• DC Bias Fixtures verfügbar, welche genaue und sichere Prüfung von konventionell bedrahteten und oberflächenmontierten Induktoren ermöglichen
• Fügt zusätzliche Funktionen hinzu
• Bis zu 10V Konformitätsspannung über dem Gerät unter Test